采用 GTEM（吉赫茲?rùn)M電磁波）進(jìn)行電磁兼容性測(cè)試是近年來國(guó)際電磁兼容領(lǐng)域 發(fā)展的一項(xiàng)新的測(cè)量技術(shù)。由于 GTEM 的寬頻帶特性（從直流到微波），低造價(jià)（只 相當(dāng)電波暗室造價(jià)的百分之幾），既可用于電磁輻射敏感度試驗(yàn)（EMS 試驗(yàn)。有時(shí)也 稱抗擾度試驗(yàn)），又可用于電磁輻射試驗(yàn)（EMI 試驗(yàn)）而且所用儀器（相對(duì)在電波暗 室中做試驗(yàn)來說）有配置簡(jiǎn)單，成本便宜和可用于快速和自動(dòng)測(cè)試的特點(diǎn)，所以越來 越受到國(guó)際和國(guó)內(nèi)有關(guān)人士的重視。其中尤以對(duì)待小設(shè)備的測(cè)試，GTEM 小室的測(cè)量 方案是性能價(jià)格比較高的測(cè)試方案。

需要重點(diǎn)指出的是：目前 IEC61000-4-3 標(biāo)準(zhǔn)中已在附錄中取消 GTEM 室的內(nèi)容， 轉(zhuǎn)而通過單列 IEC61000-4-20 標(biāo)準(zhǔn)重新描述 GTEM 小室技術(shù)，目前在電表標(biāo)準(zhǔn)中引用 的為 IEC61000-4-3 標(biāo)準(zhǔn)，即意味著檢測(cè)認(rèn)定須在暗室內(nèi)測(cè)試環(huán)境下評(píng)定，但 GTEM 室在射頻輻射抗擾度測(cè)試項(xiàng)目中對(duì)小體積設(shè)備測(cè)試的應(yīng)用測(cè)試結(jié)果的一致性已 為很多檢測(cè)機(jī)構(gòu)認(rèn)同，加之其擁有暗室測(cè)量系統(tǒng)無法比擬的高性價(jià)比，使更多企業(yè)能 夠進(jìn)行這項(xiàng)試驗(yàn)，所以目前還是許多企業(yè)進(jìn)行射頻輻射抗擾度測(cè)試的優(yōu)先級(jí)方案。
隨著技術(shù)的發(fā)展，電磁環(huán)境的惡化，射頻輻射抗擾度測(cè)試頻率已從早期的 27～500MHz 擴(kuò)展到目前的 80～1000MHz。其中高頻段的擴(kuò)展與移動(dòng)電話的普遍使用有關(guān)，如它的工作頻率已擴(kuò)展到 900 MHz（甚至更高）。對(duì) 80 MHz 的下部分將由 GB/T17626.6-1998（對(duì)應(yīng)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)為 IEC61000-4-6：1995）以傳導(dǎo)的方式進(jìn)行補(bǔ)充。